테스트·검증

NAND, DRAM에서 HBM까지 웨이퍼 전면을 한 번에 접촉하는 데 필요한 핀 수는 스무 배 가까이 차이 납니다. 고핀수 카드는 UF3000, P-12XL 등 범용 프로버에서 척 하중에 제약을 받습니다. ATE, 릴레이 매트릭스, 마더보드, 프로브 카드 중 어느 하나라도 맞지 않으면 카드 전체 테스트를 수행할 수 없습니다.

PCT5801은 Open, Short, 누설(판정 기준 10 nA), 제어 리소스, TDR까지 종단 간 전기 테스트를 수행합니다. DeepTouch1000은 1,000 kgf의 척 하중으로 카드 전체를 압착하고 프로브 팁 3차원 검사를 합니다. 두 장비를 일체형으로 구성하면 이상 채널이 카드 위 좌표와 바로 연결됩니다. 마더보드는 테스터 플랫폼에 맞춰 ODM으로 설계하며, PSTA20K는 같은 아키텍처를 패키지 소켓에 적용합니다.