半導体試験・プローブカード装置

植針・試験・洗浄・保管装置

植針装置、PCT5801電気試験、DeepTouch1000物理検査、洗浄装置、RFID保管システムを提供しています。

製品を見る技術相談

2008上海で設立

20年以上半導体試験・装置アプリケーション経験

16,384現行高チャネル試験システム

中国10台超 / 韓国1台製品記録に基づく導入実績

装置分類

組立・試験・洗浄・保管から選ぶ

各装置は単独で使用でき、Card ID、レシピ、検査結果の受渡しにも対応します。

01 / ASSEMBLY

植針・組立

治具、画像位置合わせ、レシピ、AOI、XYZ、Pin Force、電気検査。

組立装置を見る

02 / TEST

試験・検証

PCT5801電気試験とDeepTouch1000物理検証。nA級リーク、1000 kgf、針先XYZに対応。

試験システムを見る

03 / CLEAN

洗浄・再検査

IPA噴霧、制御ブラシ、クリーンガス、3方向画像検査。

洗浄装置を見る

04 / STORE

自動保管

環境制御、RFID、WMS/EAP/MES、手動・自動受渡し。

保管システムを見る

試験装置

PCT5801・DeepTouch1000

PCT5801はチャネルごとの電気特性を、DeepTouch1000は針先位置、荷重、針痕、接触状態を検査します。

PCT5801 電気試験

現行16,384チャネル。Open、Short、nA級Leakage、MCW、制御リソース、高速オプションに対応。

現行システム · 1,024チャネルモジュール詳細を見る

DeepTouch1000 物理検証

0～1000 kgf、針先XYZ、針痕、接触状態を測定し、PCT5801の異常位置と照合。

現行システム · 垂直、カンチレバー、MEMS詳細を見る

高ピン数ソケット試験

8,000～20,000 pinのAIプロセッサ用ソケットを実装前に検査。

実機製品 · 治具とpin mapを個別設定詳細を見る

問題別の装置選定

現在の症状を選択してください

該当する症状を選ぶと、推奨装置と検査項目を表示します。

Openまたは接触不安定Open、導通、針先状態Shortまたは絶縁異常Short、Leakage、汚染針痕、平坦度、荷重異常荷重、XYZ、接触粒子、残留物、再洗浄洗浄、ブロー、再検査保管・払出・履歴の問題RFID、環境、システム植針・組立のばらつき治具、画像、レシピ、検査

会社・技術経験

装置、インターフェース、現地据付

プローブカード装置を開発し、tester、prober、motherboard、工場システムとの接続にも対応します。

導入実績

製品記録では、中国10台超、韓国1台のシステム導入実績があります。

Tester / Prober連携

T5830/T5833/M5、V93000、UF3000、TEL Precio、SEMICS OPUS3、CNSなどに対応。

導入プロセス

サンプル評価、技術仕様書、FAT、SATで構成、性能、インターフェース、納入内容を確認します。

サンプル情報、既存装置、試験条件をお知らせください

1営業日以内に受領をご連絡し、担当技術者より連絡します。

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