EVA100 + 릴레이 매트릭스 · 5,000채널 이상
PSTA20K 초다채널 소켓 테스터
소켓에는 다이가 없으므로 어느 핀이 불량인지는 모든 핀에 전류를 흘려봐야 알 수 있습니다. PSTA20K는 Advantest EVA100의 256채널을 프런트엔드로 두고 릴레이 매트릭스와 소켓 전용 마더보드로 수천에서 수만 개의 접점까지 확장해, 프로세서를 장착하기 전에 오픈, 쇼트, 누설, 핀별 접촉 저항을 확인합니다. PCT5801 프로브 카드 테스트 플랫폼의 파생 장비로 채널 확장과 측정 아키텍처를 공유합니다.
소켓 테스트 장비 카테고리 이미지. 실제 마더보드, 지그, pin map은 소켓 샘플에 맞춰 설계합니다.
각 항목의 문장 설명
- 테스트 프런트엔드
- 256채널
- 확장 방식
- 아키텍처 상한 16,384 출력
- 측정 리소스
- 동시 측정 리소스는 기술 사양서에서 약정합니다
- 전류 분해능
- 500 nA 레인지
장비 및 엔지니어링 솔루션
적용 분야
프로브 카드 제작, 테스트와 유지보수의 주요 적용 분야입니다.
입고·장착 전 검사
소켓·지그 개발
이상 위치 확인
각 항목의 문장 설명
- 입고·장착 전 검사
- 프로세서를 장착하기 전에 Open, Short와 접촉 이상을 확인합니다.
- 소켓·지그 개발
- 구조, 압착 조건과 접촉 네트워크 차이를 비교합니다.
- 이상 위치 확인
- 이상을 핀과 네트워크까지 찾고 재장착·재검사 결과를 저장합니다.
SPECIFICATIONS
주요 사양
최종 구성은 카드, 인터페이스, 설치 조건과 인수 항목에 맞춰 결정합니다.
전체 사양표 보기
| 항목 | 사양 / 구성 | 비고 |
|---|---|---|
| 데이터 | pin map, 구성 버전, 채널 결과, 이상 위치, 재측정 기록 | 입고, 개발, 품질 업무에 대응 |
WORKFLOW
운영 절차
01 pin map 가져오기
02 마더보드와 지그 구성
03 채널 테스트 실행
04 보고와 출하 판정
각 항목의 문장 설명
- pin map 가져오기
- 네트, 핀 위치, 예약 핀, 판정 규칙을 확인 pin map이 확장 방식과 스캔 순서를 결정
- 마더보드와 지그 구성
- 소켓 구조에 맞춰 확장 경로, 위치 결정, 압착을 정의 마더보드는 Probing이 직접 설계·제작
- 채널 테스트 실행
- 오픈, 쇼트, 누설, 접촉 저항을 프로젝트 항목에 따라 실행 이상은 특정 핀까지 위치 확인
- 보고와 출하 판정
- 구성, 점별 결과, 재측정 기록을 출력 장착 여부 판단을 지원
FAT / SAT
프로젝트 진행
샘플 평가
기술 사양서
FAT
SAT
각 항목의 문장 설명
- 샘플 평가
- 대상, 인터페이스, 현재 상태, 불량 유형과 평가용 샘플을 확인합니다.
- 기술 사양서
- 장비 구성, 측정 방법, 판정값, 택트, 데이터 연계와 책임 범위를 확정합니다.
- FAT
- 합의한 샘플로 기능, 반복성, 보고서와 이상 처리를 확인합니다.
- SAT
- 현장 연결, 교육, 상하위 인터페이스와 잔여 문제 처리를 완료합니다.
CONFIGURATION
구성 및 인수 조건
시스템 구성, 선택 기능과 인수 조건을 아래에 정리했습니다.
아키텍처와 사양
EVA100 프런트엔드, 릴레이 매트릭스 확장, PMU와 측정 레인지는 Probing 소켓 테스터 제품 자료 Rev 1.7(2024-11-15)을 따릅니다.
채널 규모
16,384는 릴레이 매트릭스의 아키텍처 상한입니다. 제품 포지션은 5,000채널 이상이며 납품 구성은 pin map과 마더보드에 따라 결정됩니다.
테스트 시간
공칭 테스트 시간은 5,000채널 기준이며 로드·언로드와 온도 안정 시간을 포함하지 않습니다. 실제 택트는 대상 pin map과 판정 기준 확정 후 실측으로 확인합니다.
카드 사양과 연결 조건을 알려주십시오
샘플, 기존 장비, 현재 문제와 목표 택트를 보내주십시오. 1영업일 이내에 접수 여부를 안내합니다.