고핀수 소켓 테스터 실물 일부입니다. 지그, 압착과 전기 인터페이스는 소켓에 맞춰 설계합니다.
장비 및 엔지니어링 솔루션
적용 분야
프로브 카드 제작, 테스트와 유지보수의 주요 적용 분야입니다.
입고·장착 전 검사
프로세서를 장착하기 전에 Open, Short와 접촉 이상을 확인합니다.
소켓·지그 개발
구조, 압착 조건과 접촉 네트워크 차이를 비교합니다.
이상 위치 확인
이상을 핀과 네트워크까지 찾고 재장착·재검사 결과를 저장합니다.
SPECIFICATIONS
주요 사양
최종 구성은 카드, 인터페이스, 설치 조건과 인수 항목에 맞춰 결정합니다.
| 항목 | 사양 / 구성 | 비고 |
|---|---|---|
| 대상 핀 수 | 8,000~20,000 pin | 채널 구성과 스캔 방식을 pin map에 맞춰 설계 |
| 대상 | AI 프로세서 및 고핀수 패키지 소켓 | pin map, 실제 샘플과 기계 데이터 필요 |
| 검사 항목 | Open, Short, 접촉, 지정 전기 항목 | 범위, 판정값과 대상 네트워크를 샘플로 설정 |
| 지그 | 위치 결정, 압착, 오장착 방지 | 스트로크, 하중과 안전 조건을 소켓 구조에 맞춰 설계 |
| 데이터 | pin map, 설정 버전, 채널 결과, 이상 위치, 재검사 | 입고, 개발과 품질 관리에 사용 |
| 성능 | 스캔·판정 시간 | 대상 pin map과 판정 조건으로 실측 |
| 인터페이스 | 상위 PC, 보고서, 공장 시스템 | ID, 작업 지시와 결과 항목 연계 가능 |
WORKFLOW
운영 절차
pin map 등록
네트워크, 핀, 예약 핀과 판정 규칙을 확인합니다.
지그·압착 확인
위치, 오장착 방지, 스트로크, 하중과 반복 장착을 확인합니다.
채널 검사
설정한 항목을 실행하고 이상 핀과 네트워크를 표시합니다.
보고·판정
설정, 결과와 재검사 이력을 출력해 장착 여부 판단에 사용합니다.
FAT / SAT
프로젝트 진행
샘플 평가
대상, 인터페이스, 현재 상태, 불량 유형과 평가용 샘플을 확인합니다.
기술 사양서
장비 구성, 측정 방법, 판정값, takt, 데이터 연계와 책임 범위를 확정합니다.
FAT
합의한 샘플로 기능, 반복성, 보고서와 이상 처리를 확인합니다.
SAT
현장 연결, 교육, 상하위 인터페이스와 잔여 문제 처리를 완료합니다.
CONFIGURATION
구성 및 인수 조건
시스템 구성, 선택 기능과 인수 조건을 아래에 정리했습니다.
적용 범위
8,000~20,000 pin 고핀수 소켓을 지원합니다.
사양 설정
범위, 판정값, 스캔 시간과 압착 조건은 대상 소켓과 pin map으로 설정합니다.
인수 방법
정상 샘플, 불량 샘플과 반복 장착으로 FAT/SAT 항목을 확인합니다.
카드 사양과 연결 조건을 알려주십시오
샘플, 기존 장비, 현재 문제와 목표 takt를 보내주십시오. 1영업일 이내에 접수 여부를 안내합니다.