半导体测试与探针卡工程设备

半导体测试与探针卡工程设备

探针卡装配、测试、清洗与存储设备

产品包括植针装配设备、PCT5801 电性测试、DeepTouch1000 物理检查、探针卡清洗机和 RFID 存储系统。

2008创立于上海
20+ 年创始人半导体测试与设备应用经验
300,000PCT5801v2 旗舰配置最大针数
中国 10+ / 韩国 1产品记录中的系统安装数量
设备分类

按装配、测试、清洗和存储查看产品

各设备可单独使用,也可按 Card ID、配方和检测结果交换数据。

01 / ASSEMBLY

植针装配

取针、矫正、激光微焊接三段工位,焊后自动对焦检测,并接 PCT5801 与 DeepTouch1000 复核。

查看植针装配设备
02 / TEST

测试验证

PCT5801 端到端电性检查与 DeepTouch1000 整卡压合验证,覆盖 10 nA 漏电、TDR 传输时间、1000 kg 卡盘力与针尖三维检测。

查看测试系统
03 / CLEAN

清洗复检

雾化 IPA、受控软刷、洁净气体吹扫与真空回收,配三方向图像复检。

查看清洗设备
04 / STORE

智能存储

受控环境、RFID、WMS/EAP/MES,以及人工或自动化交接。

查看存储系统
测试设备

PCT5801 与 DeepTouch1000

PCT5801 复现真实量产条件做电性检查;DeepTouch1000 以 1000 kg 卡盘力完成整卡压合与针尖三维检测。

PCT5801 探针卡电性测试平台与 motherboard 机架实物

PCT5801 探针卡测试系统

端到端测试通路,覆盖开路、短路、10 nA 漏电、控制资源与 TDR 传输时间;v2 旗舰最大 300,000 针。

现有系统 · 1,024 通道 × 最多 64 片矩阵查看详细介绍
DeepTouch1000 探针卡专用探针台

DeepTouch1000 专用探针台

1000 kg 卡盘力、最大 300,000 针整卡压合,配针尖三维检测;通用探针台仅 80~300 kg,压不动高针数整卡。

现有系统 · PB5801 一体化结构查看详细介绍
高针数封装插座测试设备

PSTA20K 插座测试机

EVA100 的 256 通道经继电器矩阵扇出到数千至上万个接触点,装机前查完开短路、nA 级漏电与逐针接触电阻。

现有系统 · 5,000 通道以上查看详细介绍
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公司与工程经验

设备、接口与现场安装

Probing 开发探针卡设备,并负责 tester、prober、motherboard 和工厂系统接口。

系统安装

现有产品记录包括中国大陆 10 套以上、韩国 1 套系统安装。

Tester / Prober 适配

已交付平台含 Advantest T5830/T5833/V93000 与 Teradyne Magnum 5;探针台已适配 Accretech UF3000/UF3000ex、TEL Precio、SEMICS OPUS3 与 CNS。

项目实施

通过样品评估、技术协议、FAT 和 SAT 确认配置、接口、性能与交付内容。

自研 motherboard

探针卡测试系统的 motherboard 由 Probing 自行设计与制造,包括面向 Advantest T5833 的板卡工程,因此通道映射与接口可按客户平台调整。

自研与代理的边界

PCT5801、DeepTouch1000 与 PSTA20K 为 Probing 自研产品;Advantest EVA100 为 Advantest 产品,Probing 是其代理与分销商并负责机械集成。

请提供样品资料、现有设备和测试要求

我们将在 1 个工作日内确认收到,并由工程师联系。

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