半导体测试与探针卡工程设备

探针卡装配、测试、清洗与存储设备

产品包括植针装配设备、PCT5801 电性测试、DeepTouch1000 物理检查、探针卡清洗机和 RFID 存储系统。

查看产品提交项目需求

2008创立于上海

20+ 年创始人半导体测试与设备应用经验

16,384现有高通道探针卡测试系统通道数

中国 10+ / 韩国 1产品记录中的系统安装数量

设备分类

按装配、测试、清洗和存储查看产品

各设备可单独使用，也可按 Card ID、配方和检测结果交换数据。

01 / ASSEMBLY

植针装配

治具、视觉辅助对位、配方管理及装配后 AOI、XYZ、Pin Force 与电性检查。

查看植针装配设备

02 / TEST

测试验证

PCT5801 高通道电性检查与 DeepTouch1000 物理验证，覆盖 nA 级漏电、1000 kgf 与针尖 XYZ。

查看测试系统

03 / CLEAN

清洗复检

雾化 IPA、受控刷洗、洁净气体吹扫和三方向图像复检。

查看清洗设备

04 / STORE

智能存储

受控环境、RFID、WMS/EAP/MES，以及人工或自动化交接。

查看存储系统

测试设备

PCT5801 与 DeepTouch1000

PCT5801 检查各通道电性；DeepTouch1000 检查针尖位置、负载、针痕和接触状态。

PCT5801 电性测试

现有高通道系统支持 16,384 通道，覆盖 Open、Short、nA 级 Leakage、MCW、控制资源及选配高速项目。

现有系统 · 1,024 通道模块化架构查看详细介绍

DeepTouch1000 物理验证

0-1000 kgf 负载、针尖 XYZ、针痕和接触状态检查，可与 PCT5801 异常坐标关联。

现有系统 · 支持垂直、悬臂与 MEMS 卡查看详细介绍

高针数插座测试

面向 8,000-20,000 pin AI 处理器封装插座，在装机前完成接触与电性验证。

实机产品 · 治具与 pin map 按样品配置查看详细介绍

按问题选设备

您现在遇到什么问题？

选择一个现象，查看建议使用的设备和检查项目。

开路或接触不稳定Open、连续性、针尖状态短路或绝缘异常Short、Leakage、污染排查针痕、平整度或受力异常载荷、XYZ、接触一致性颗粒、残留或重复清洁清洗、吹扫、复检存放、领用或追溯混乱RFID、环境、系统接口植针装配一致性不足治具、视觉、配方与验证

公司与工程经验

设备、接口与现场安装

Probing 开发探针卡设备，并负责 tester、prober、motherboard 和工厂系统接口。

系统安装

现有产品记录包括中国大陆 10 套以上、韩国 1 套系统安装。

Tester / Prober 适配

覆盖 Advantest T5830/T5833/M5、V93000，以及 UF3000、TEL Precio、SEMICS OPUS3、CNS 等项目。

项目实施

通过样品评估、技术协议、FAT 和 SAT 确认配置、接口、性能与交付内容。

请提供样品资料、现有设备和测试要求

我们将在 1 个工作日内确认收到，并由工程师联系。

提交项目需求