메모리와 HBM: 핀 수, 채널, 압착력

프로브 카드의 핀 수는 피측정 디바이스가 결정합니다. 메모리 프로브 카드는 웨이퍼 전체에 한 번에 접촉하며, 기본 카드는 16,000핀, DRAM 카드는 60,000핀입니다. HBM 카드에서는 핀 수가 기본 카드의 20배에 가깝습니다.

PCT5801 현행 플랫폼의 카드 측 핀 수 용량은 67,000핀입니다. DRAM과 HBM급 카드는 카드 종류, motherboard, tester 인터페이스에 맞춰 별도로 설계합니다. 본문의 핀 수는 모두 카드 측 핀 수를 가리킵니다.

PCT5801의 Open, Short, Leakage, AC 테스트는 전체 핀 또는 전체 채널에 대해 수행합니다. Leakage는 전 핀 대 핀 테스트로 수행하며 판정 기준은 10 nA입니다.

릴레이 매트릭스의 채널 용량은 핀 수 요구에 따라 확장하며, 작업 시간은 핀 수와 구성에 따라 달라집니다. 전기 이상은 카드 위 좌표로 연결하고, 프로브 팁 XYZ, 하중, 접촉 상태로 물리적 원인을 설명합니다.

제어 신호 테스트는 MCW, FPGA, ASIC, I²C, SPI 제어 리소스를 검증합니다. 아날로그 측정은 Kelvin 4단자 방식을 사용하며 DPS 디바이스 전원을 함께 구성합니다.