SWTest 2025 会場入口のバナー。Welcome! SWTest 2025 Conference & EXPO、Omni La Costa 会場

出展レポート · 終了

SWTest 2025

第 34 回 SWTest Conference & EXPO は 2025 年 6 月 2 日から 4 日まで、米国カリフォルニア州 Carlsbad の Omni La Costa リゾートで開催されました。ウェーハテスト分野の年次会議です。Probing は出展にとどまらず、創業者の宋子凱が『One-Time Touchdown Probe Card and Tester Total Solution』と題して講演しました。

セッションP02_02 · 6月2日大会論文集 315–317 ページに収録
会期2025年6月2–4日米国カリフォルニア州 Carlsbad · Omni La Costa
役割講演者大会より宋子凱へ講演者感謝状(2025-06-04)
会場での内容

展示した装置

講演はワンタッチダウンでのカード全体検証がテーマ。会場で最も多かった質問は、カード全体の電気試験、加圧力、針先状態の三つでした。

カード全体の電気試験

オープン、ショート、リーク検査を行い、異常チャネルを座標まで特定します。

加圧力

カード全体検証に必要な加圧力がどこから生まれ、どう読み取るか。

展示会後のご連絡

カード形式、ピン数、現在の課題をお知らせいただければ構成の確認を続けます。

今後

プロジェクトのお問い合わせ

サンプル、既存装置、試験要件をお知らせいただければ、技術者よりご連絡いたします。

展示会後も技術相談を受け付けています

サンプル、既存装置、プロジェクト条件をお送りください。1営業日以内に受領をご連絡します。

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