出展レポート · 終了
SWTest 2026
2026年6月8～10日、米国CarlsbadのSWTest 2026 Booth 303で、プローブカード電気試験、物理検証、高ピン数システムを紹介しました。
会場での内容
Wafer test・プローブ技術
PCT5801高チャネル電気試験、DeepTouch1000物理検証、メモリ用プローブカードシステムを紹介しました。
電気試験
Open、Short、nA級Leakage、制御リソース、高速オプション。
物理検証
0～1000 kgf、針先XYZ、針痕、接触状態。
システム連携
tester、prober、motherboard、結果履歴を接続。
今後
技術相談
製品ページからカード形式、接続条件、サンプル情報をお知らせください。
展示会後も技術相談を受け付けています
サンプル、既存装置、プロジェクト条件をお送りください。1営業日以内に受領をご連絡します。