活动回顾 · 已结束
SWTest 2025
第 34 届 SWTest 于 2025 年 6 月 2 日至 4 日在美国加州 Carlsbad 的 Omni La Costa 度假区举行。这是晶圆测试领域的年度行业会议。Probing 不只是参展：创始人宋子凯在会上发表演讲，题目为《One-Time Touchdown Probe Card and Tester Total Solution》（一次 Touchdown 探针卡与测试机整体解决方案）。
现场内容
展出的设备
演讲围绕一次 Touchdown 的整卡验证展开：整卡电测、压合力与针尖状态是现场问得最多的三件事。
整卡电测
开路、短路与漏电检查，异常通道对得到坐标。
压合力
高针数整卡验证需要的压合力，从哪里来、怎么读。
会后联系
可提供卡型、针数与现有问题，继续确认设备配置。
后续
项目联系
请提供样品、现有设备和测试要求，工程师会安排后续沟通。
展会结束，工程沟通继续
提交样品、现有设备和项目条件，我们将在 1 个工作日内确认收到。