SWTest 2025 행사장 입구 배너. Welcome! SWTest 2025 Conference & EXPO, Omni La Costa 회장

참가 리뷰 · 종료

SWTest 2025

제34회 SWTest Conference & EXPO 는 2025년 6월 2일부터 4일까지 미국 캘리포니아주 Carlsbad 의 Omni La Costa 리조트에서 열렸습니다. 웨이퍼 테스트 분야의 연례 회의입니다. Probing 은 전시에 그치지 않고 창업자 송쯔카이가 'One-Time Touchdown Probe Card and Tester Total Solution' 을 주제로 강연했습니다.

세션P02_02 · 6월 2일학회 논문집 315–317쪽 수록
일정2025-06-02~04미국 캘리포니아 Carlsbad · Omni La Costa
역할연사학회가 송쯔카이에게 연사 감사장 수여(2025-06-04)
현장 내용

전시한 장비

강연 주제는 원터치다운 카드 전체 검증. 현장에서 가장 많았던 질문은 카드 전체 전기 테스트, 가압력, 침선 상태 세 가지였습니다.

카드 전체 전기 테스트

오픈, 쇼트, 누설 검사를 수행하고 이상 채널을 좌표까지 특정합니다.

가압력

카드 전체 검증에 필요한 가압력이 어디에서 나오고 어떻게 읽는지.

전시회 이후

카드 형식, 핀 수, 현재 문제를 알려 주시면 구성 확인을 이어갑니다.

다음 단계

프로젝트 문의

샘플, 기존 장비, 테스트 요구사항을 보내 주시면 엔지니어가 후속 연락을 드립니다.

전시회 이후에도 기술 상담을 계속합니다

샘플, 기존 장비와 프로젝트 조건을 보내주십시오. 1영업일 이내에 접수 여부를 안내합니다.

기술 문의 보내기