メモリとHBM：ピン数、チャネル、圧接力

プローブカードのピン数は被試験デバイスによって決まります。メモリ用プローブカードはウェーハ一括接触で、基本カードが16,000ピン、DRAMカードが60,000ピンです。HBMカードでは、ピン数は基本カードの20倍近くになります。

PCT5801の現行プラットフォームのカード側ピン数の容量は67,000ピンです。DRAMやHBMクラスのカードは、カード形式、motherboard、testerインタフェースごとに個別に設計します。本文のピン数はすべてカード側ピン数を指します。

PCT5801のオープン、ショート、リーク、交流試験は、全ピンまたは全チャネルで実行します。リークは全ピン対ピンで試験し、判定基準は10 nAです。

リレーマトリクスのチャネル容量はピン数の要求に応じて拡張し、タスク時間はピン数と構成によって変わります。電気的な異常はカード上の座標に対応付け、針先XYZ、荷重、接触状態で物理的な原因を説明します。

制御信号試験では、MCW、FPGA、ASIC、I²C、SPIの制御リソースを検証します。アナログ測定はKelvin四線法で行い、DPSでデバイス電源を供給します。