マザーボード実機：中央がプローブカード接触部、周囲がチャネル別に束ねたハーネス。インタフェースと数量はプラットフォームとカード種別によります。
各項目の文章説明
- 対応プラットフォーム
- 主要なメモリ・SoCテスタ
- 最大チャネル
- V93000構成
- 測定範囲
- 交流はT5833 FULL構成で対応済み
- 提供形態
- プラットフォームとカードに合わせた設計・製造
装置・エンジニアリングソリューション
適用分野
プローブカードの製造、試験、保守における主な適用分野です。
新規カードの立ち上げ
チャネル拡張
交流測定の追加
接触不良の切り分け
各項目の文章説明
- 新規カードの立ち上げ
- 既存テスタに新しい構造のカードを載せる際、接触方式と信号定義に合わせてマザーボードを作り直します。
- チャネル拡張
- 8 TOMから32 TOMやFULLへ移る際、実際に引き出せるチャネル数はマザーボードで決まります。
- 交流測定の追加
- 既存プラットフォームでTDR伝送時間を測るには、配線長とインピーダンスが制御されていることが前提です。
- 接触不良の切り分け
- 接触抵抗の上昇やチャネルの不安定が出たとき、マザーボードを単独で検証し、プローブカードを巻き添えで疑わずに済みます。
SPECIFICATIONS
主な仕様
最終構成は、カード、インターフェース、設置条件、受入項目に合わせて決定します。
仕様表をすべて表示
| 項目 | 仕様・構成 | 補足 |
|---|---|---|
| 接触と配線 | 安定した接触構造と低抵抗配線設計 | 接触抵抗と信号品質がマザーボードの基本指標 |
| その他プラットフォーム | T2000、93K-DD、UltraFlexなどは案件ごとに評価 | 納入実績のないプラットフォームは事前に成立性確認が必要 |
WORKFLOW
運用フロー
01 プラットフォームとカードの確認
02 構造・配線設計
03 製造と組立
04 電気検証のうえ納入
各項目の文章説明
- プラットフォームとカードの確認
- テスタ型式、TOM / FULL構成、カードの接触構造と信号定義を確定します。
- 構造・配線設計
- 加圧構造、接触部品の形式、層数、インピーダンス目標を決定します。
- 製造と組立
- 板加工、接触部品の組付け、カードおよびテストヘッドとの機械的嵌合確認を行います。
- 電気検証のうえ納入
- PCT5801でオープン・ショート、接触抵抗、必要に応じTDRを検証してから納入します。
FAT / SAT
導入プロセス
サンプル評価
技術仕様書
FAT
SAT
各項目の文章説明
- サンプル評価
- 対象、インターフェース、現状、不良モード、評価用サンプルを確認します。
- 技術仕様書
- 装置構成、測定方法、判定値、タクト、データ連携、責任範囲を確定します。
- FAT
- 合意したサンプルで機能、繰返し精度、報告書、異常処理を確認します。
- SAT
- 現場接続、教育、上流・下流インターフェース、残課題の対応を完了します。
CONFIGURATION
構成・受入条件
システム構成、選択機能、受入条件を以下に示します。
納入済み構成
Advantest T5830の8 TOMと32 TOM、T5833のFULL、Teradyne M5のSSV / XV、Advantest V93000の4,000ピン構成は、いずれも設計・製造・納入まで完了しています。
交流対応の現状
T5833 FULL構成のマザーボードはDCとTDR交流の双方に対応済みです。他プラットフォームの交流測定はODMでの個別対応であり、標準在庫能力ではありません。
量産導入
マザーボードは複数のウェーハ工場で量産使用に入っています。顧客名・台数・案件は公開しません。
テスト経路上の位置
PCT5801の経路はATE、リレーマトリクス、マザーボード、プローブカードの順です。四つのいずれかが合わなければカード全体の測定は成立せず、マザーボードは最も過小評価されやすい一段です。
カード仕様と接続条件をお知らせください
サンプル、既存装置、現在の課題、目標タクトをお送りください。1営業日以内に受領をご連絡します。