示意模型
放行前判定残留与颗粒
清洗后的残留,与装配一致性、存储环境、测试判据一样影响探针卡的成本。这一段缺少对应设备,问题会推迟到量产才暴露。
设备按配方完成雾化 IPA、受控软刷与洁净气体吹扫。再以三方向图像判定残留、颗粒、弯针与异常形貌。判定阈值按客户的验收方法定义。
设备
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请提供卡型、污染样品与验收方法
我们将在 1 个工作日内确认收到。
清洗后的残留,与装配一致性、存储环境、测试判据一样影响探针卡的成本。这一段缺少对应设备,问题会推迟到量产才暴露。
设备按配方完成雾化 IPA、受控软刷与洁净气体吹扫。再以三方向图像判定残留、颗粒、弯针与异常形貌。判定阈值按客户的验收方法定义。
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