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SEMICON China 2026：Probing 展台与现场团队

设备、展台与技术交流

从现场照片中选取设备演示、结构说明和客户交流场景。

现场照片 · 10 张2026.03.25–27上海新国际博览中心（SNIEC）
Probing 展台与现场团队 · 实拍

现场照片

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身着工作服的团队在 Probing 展台前合影
Probing 展台与现场团队
工程人员在高通道探针卡测试设备旁向访客讲解，屏幕上是测试画面
高通道探针卡测试设备现场演示
工程人员手持资料向两位访客讲解
工程人员向海外访客说明技术资料
几位访客围在设备台面前，台面上是探针卡承载盘
motherboard 与探针卡接口说明
两人在设备旁交谈，前景是探针卡承载盘
客户查看探针卡承载结构
工程人员在设备前讲解操作与测试步骤
设备操作与测试流程讲解
展台屏幕前，工程人员与访客交谈
一次落针测试系统现场交流
访客查看设备结构与测试步骤
客户查看设备结构和测试步骤
访客俯身查看设备工位
探针卡测试工位近距离查看
工程人员与访客沟通设备结构和项目要求
设备结构和项目要求沟通

展会结束，工程沟通继续

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