SEMICON China 2026 Probing 展台与团队

活动回顾 · 已结束

SEMICON China 2026

2026 年 3 月 25-27 日,Probing 在上海新国际博览中心展示了高通道探针卡电性测试与物理验证设备,并与客户交流 motherboard、tester/prober 接口和高针数项目。

状态活动已结束照片与产品资料持续开放
日期2026.03.25-27三天展期
场馆上海新国际博览中心SNIEC,上海
照片10 张精选设备、展台与技术交流
现场内容

设备演示与现场技术交流

展台重点呈现存储器探针卡测试、motherboard 接口、高通道电性检查和 DeepTouch 物理验证。

设备演示

现场演示探针卡电性与物理检查设备的操作和测试步骤。

接口讨论

讨论 motherboard、接触检查、tester/prober 适配和项目接口。

照片记录

精选 10 张设备、展台、操作演示和客户交流照片。

后续

展后技术沟通

需要继续讨论探针卡、tester/prober 接口或高针数测试项目,可从产品详情页提交样品和项目条件。

展会结束,工程沟通继续

提交样品、现有设备和项目条件,我们将在 1 个工作日内确认收到。

提交项目需求