SEMICON China 2026

在上海新国际博览中心演示高通道探针卡电性测试与物理验证设备。

2026.03.25–27上海新国际博览中心（SNIEC）已结束

高通道探针卡测试设备现场演示 · 实拍

设备演示与现场技术交流

展台重点呈现存储器探针卡测试、motherboard 接口、高通道电性检查和 DeepTouch 物理验证。现场演示了设备的操作和测试步骤。下列三项为相关产品，不是展品清单。

相关产品：PCT5801 探针卡测试系统。

相关产品：DeepTouch1000 专用探针台。

相关产品：探针卡适配母板，含接触检查与 tester/prober 适配。

提交样品、现有设备和项目条件，我们将在 1 个工作日内确认收到。