活动回顾 · 已结束
SWTest 2026
2026年6月8-10日，Probing Group 在美国 Carlsbad 的 SWTest 2026 Booth 303 介绍探针卡电性测试、物理验证和高针数系统。
现场内容
Wafer test 与探针技术
技术内容集中在 PCT5801 高通道电性测试、DeepTouch1000 物理验证和存储器探针卡系统。
电性验证
Open、Short、nA级 Leakage、控制资源和选配高速项目。
物理验证
0-1000 kgf、针尖 XYZ、针痕与接触状态。
系统连接
连接 tester、prober、motherboard 和结果追溯。
后续
继续技术沟通
从产品详情页提交卡型、接口和样品信息，继续讨论探针卡与高针数项目。
展会结束，工程沟通继续
提交样品、现有设备和项目条件，我们将在 1 个工作日内确认收到。