SEMICON China 2025 活动标识

活动回顾 · 已结束

SEMICON China 2025

SEMICON China 2025 在上海举行。Probing 在现场演示了 DeepTouch 探针卡承载与压合过程,并与来访的工程与采购团队讨论了高针数整卡验证的压合力需求。

状态活动已结束产品资料持续开放
日期2025上海
展示DeepTouch探针卡承载与压合演示
现场内容

展出的设备

现场围绕探针卡测试与压合展开:整卡电测、压合力与针尖状态是访客问得最多的三件事。

整卡电测

开路、短路与漏电检查,异常通道对得到坐标。

压合力

高针数整卡验证需要的压合力,从哪里来、怎么读。

会后联系

可提供卡型、针数与现有问题,继续确认设备配置。

后续

项目联系

请提供样品、现有设备和测试要求,工程师会安排后续沟通。

展会结束,工程沟通继续

提交样品、现有设备和项目条件,我们将在 1 个工作日内确认收到。

提交项目需求