实物系统中的 motherboard 与通道机架；接口和数量按项目配置。
设备与工程方案
适用场景
适用于以下探针卡制造、测试与维护环节。
出厂与维修后电测
对探针卡进行开短路、漏电和控制资源检查，形成可追踪报告。
ATE 接口前置验证
在占用生产测试机前，先验证 motherboard、通道和基础电气状态。
高通道扩展
以 1,024 通道模块组织容量，并按卡型与机架配置扩展。
SPECIFICATIONS
主要规格
具体配置根据卡型、接口、现场条件和验收项目确定。
| 项目 | 规格 / 配置 | 说明 |
|---|---|---|
| 系统位置 | ATE/tester → PCT5801 通道/继电器 → motherboard → probe card | 接口定义与实际板卡保持一致 |
| 模块容量 | 1,024 channels / piece | 模块数量由目标通道数、机架和接口配置决定 |
| 基础项目 | Open、Short、Leakage | 阈值与量程按样品和技术协议 |
| 控制项目 | MCW、Relay、FPGA、ASIC、SPI、I²C | 按资源配置启用 |
| 可选项目 | AC、TDR、PBDATA、Kelvin | 需要对应硬件和接口配置 |
| 机械接口 | ZIF、POGO 与项目治具 | motherboard 结构和更换方法按项目确认 |
| 数据 | 配置版本、原始结果、判定和复测记录 | 用于报告、追溯和 FAT/SAT |
WORKFLOW
工作流程
定义通道映射
从 tester、motherboard 和 probe card pin map 建立一致的通道关系。
装载任务配置
设置项目、量程、阈值、控制资源与复测策略。
执行与定位
运行电测并把异常定位到通道、motherboard 或探针卡位置。
输出可复核结果
保存原始数据、版本和判定，必要时转入 DeepTouch 物理检查。
FAT / SAT
项目实施
样品评估
确认对象、接口、现状、失效模式和可用于验证的样品。
技术协议
确定配置、量测方法、阈值、节拍、数据接口和双方责任。
FAT 工厂验收
使用约定样品验证功能、重复性、报告和异常处理。
SAT 现场验收
完成现场联调、培训、上下游接口和遗留问题闭环。
CONFIGURATION
配置与验收
以下内容用于说明系统构成、选配项目和最终验收方式。
系统配置
现有高通道系统支持 16,384 通道。
模块化设计
以 1,024 ch 模块为单位，按机架、motherboard 和测试项目组合。
参数确认
量程、阈值、高速项目和 Kelvin 覆盖在样品评估与技术协议阶段确定。
把卡型、接口和目标交给工程团队
提交样品、现有设备、当前问题和目标节拍；我们将在 1 个工作日内确认收到。