PCT5801 高通道系统；现有系统配置为 16,384 通道，motherboard 与接口按卡型设计。
设备与工程方案
适用场景
适用于以下探针卡制造、测试与维护环节。
存储器探针卡交付验证
在交付或维修后，按 Open、Short、Leakage、控制资源与接口项目形成可追溯结果。
HBM 与一次落针评估
按高针数 motherboard 和 tester/prober 配置核对通道分配及一次落针连接。
电性异常定位
先定位开短路、漏电或控制资源异常，再用针尖 XYZ、受力和接触状态解释物理原因。
SPECIFICATIONS
主要规格
具体配置根据卡型、接口、现场条件和验收项目确定。
| 项目 | 规格 / 配置 | 说明 |
|---|---|---|
| 应用对象 | NAND、NOR、DRAM；HBM 按项目配置 | 探针卡、motherboard 和 tester 共同定义系统配置 |
| 基础电测 | Open、Short、nA 级 Leakage | 阈值、量程与测试项目写入技术协议 |
| 控制资源 | MCW、Relay、FPGA、ASIC、SPI、I²C | 按板卡与 tester 接口启用 |
| 高速/波形项目 | PBDATA、TDR、AC | 作为选配项目，需要相应硬件与接口 |
| 通道规模 | 现有系统 16,384 通道 | 60k/300k HBM 为扩展设计方向，按目标卡型单独配置 |
| 典型任务时间 | Open 5 min；Short 5 min；10k pin / 10 nA Leakage 60 min；MCW/控制 5-30 min；PBDATA/TDR 20 min | 与卡型、通道配置、判定逻辑和复测策略相关 |
| tester 生态 | T5830、T5833、M5、V93000 P16 等 | 接口以现场 tester、motherboard 与项目文件为准 |
| prober 生态 | UF3000/UF3000ex、TEL Precio、SEMICS OPUS3、CNS | 机械、电气和自动化接口逐项目确认 |
WORKFLOW
工作流程
接口与样品建模
核对卡型、针数、tester、prober、motherboard、控制资源和验收项目。
电性任务执行
按 Open、Short、Leakage、MCW、控制和可选高速项目运行并保存原始结果。
物理检查关联
针对异常位置补充针尖 XYZ、受力、针痕或接触状态检查。
报告与复测
保留配置版本、结果、异常处理和复测结论，支持 FAT/SAT。
FAT / SAT
项目实施
样品评估
确认对象、接口、现状、失效模式和可用于验证的样品。
技术协议
确定配置、量测方法、阈值、节拍、数据接口和双方责任。
FAT 工厂验收
使用约定样品验证功能、重复性、报告和异常处理。
SAT 现场验收
完成现场联调、培训、上下游接口和遗留问题闭环。
CONFIGURATION
配置与验收
以下内容用于说明系统构成、选配项目和最终验收方式。
安装应用
现有产品记录包括中国大陆 10 套以上、韩国 1 套系统安装。
扩展方案
16,384 通道为现有系统配置；60k/300k HBM 根据卡型、motherboard 与 tester 接口单独设计。
项目确认
最终通道数、量程、阈值、接口和任务时间在样品评估、技术协议及 FAT/SAT 中确定。
把卡型、接口和目标交给工程团队
提交样品、现有设备、当前问题和目标节拍；我们将在 1 个工作日内确认收到。