DeepTouch1000 プローブカード専用プローバ

1000 kgf 満載実測 · 最大 300,000 ピンのカードに対応

DeepTouch1000 プローブカード専用プローバ

機械プラットフォームは1000 kgf満載剛性の実測を完了しています。300,000ピンはv2目標カードアーキテクチャであり、最終的な対応ピン数はカード設計とFAT/SAT計画で確定します。全ピン同時接触に必要な加圧力は代表的な条件で約450 kgfと見積もられ、実際の総荷重は針あたり荷重、カード構造、接触ストローク、プロセス条件に依存します。DeepTouch1000はチャック荷重1000 kgfとPB5801一体構造で、カード全体の圧接、針先の三次元検査、接触状態の確認を1台で行い、PCT5801の異常チャネル座標と対応させます。

DeepTouch1000 製品レンダリング(実機写真ではありません):チャック荷重 1000 kgf、最大 300,000 ピンのカード全体圧接。
チャック荷重1000 kgf
対象カード規模最大 300,000 ピン
構成PB5801 一体型
幾何検査針先XYZ三次元スキャン
各項目の文章説明
チャック荷重
高ピン数カード全体の圧接
対象カード規模
v2 連携の目標。針圧とカード構成によります
構成
プローバと試験システムの統合
幾何検査
針長、位置、平坦度
装置・エンジニアリングソリューション

適用分野

プローブカードの製造、試験、保守における主な適用分野です。

高ピン数カードの荷重評価

針先位置と平坦度

電気異常の再確認

プローブカードの受入検査

連続クリーニングと連続タッチダウン

各項目の文章説明
高ピン数カードの荷重評価
荷重過程、総荷重、接触状態を確認し、HBMや大型プローブカードの設計・受入に使用します。
針先位置と平坦度
XYZデータと画像から、位置ずれ、平坦度、接触差を確認します。
電気異常の再確認
PCT5801で検出した異常位置を、針先、針痕、荷重データと照合します。
プローブカードの受入検査
入荷したプローブカードの電気特性、接触性能、針先の均一性を検査したうえで、ライン投入の可否を判断します。
連続クリーニングと連続タッチダウン
連続クリーニング(クリーニングシートの装填 → クリーニング → 針痕検査 → 針先検査)と連続タッチダウンのシーケンスを内蔵し、タッチダウン回数に伴う接触状態の変化を評価します。
SPECIFICATIONS

主な仕様

最終構成は、カード、インターフェース、設置条件、受入項目に合わせて決定します。

チャック荷重1000 kgf高ピン数カードの全ピン同時接触に必要な加圧力は代表的な条件で約450 kgfと見積もられます(代表計算:300,000 ピン × 1 ピンあたり目標針圧 1.5 gf と仮定 ≈ 450 kgf。実際は同時接触ピン数・針圧・オーバードライブ・安全係数によります)
最大ピン数300,000 pin対象カードとmotherboardに合わせて構成
構成PB5801 All-in-oneプローバとプローブカード試験システムを一体化
搬送口Media Loader Portキャリアの搬出入と仕分け
荷重表示ChuckForce Display圧接中のチャック荷重をリアルタイム表示
デバイス搬送HBM handling高積層デバイスの搬送と位置決め
仕様表をすべて表示
項目仕様・構成補足
針先検査XYZ 三次元針先検出針長・位置・平面度。検査仕様は技術仕様書で提示します
温度対応三温度(オプション)温度域は構成と試験条件により決定
POSTユニット(オプション)PinForce 測定と接触チェックセンサ・位置決め仕様は技術仕様書で提示します
除振高性能除振プラットフォーム針先測定時の外部振動を抑制
対応カード垂直プローブカード、カンチレバー、MEMSプローブカード4.5 / 9 / 12インチに対応
ウェーハ300 mmプローブカード自動交換台車はオプション
標準ソフトウェアリアルタイム Wafer Map(PASS/FAIL/BIN 二色または多色)、Manual Inspection、オフラインレシピ編集、ログと結果の出力標準構成
操作画面カラー LCD 1920×1080、中国語/英語の二言語、タッチ操作と試験フローの可視化標準構成
安全機構EMO による電源の直接遮断、head plate と loader side cover のインタロック(オプションの WAPP ドアを含む)装置自体の安全機構であり、いかなる法規適合の表明も構成しません
満載時Z軸真直度< 0.2 µm(0~1000 kgf)段階加圧での実測。直線性は良好
満載時チャック平面度偏差 ≤ 10 µm(3 mmストローク)満載実測、設計規格内
満載時傾き約 0.003°(D300 mmで約 16.2 µm相当)満載実測。受入限度値は技術仕様書で定義します
加圧再現性3回の加圧で結果が一致、構造対称で非対称変形なし満載実測
清浄度と気流FFU / HEPAによるろ過層流を内蔵測定エリアの発塵が針先と接触に及ぼす影響を低減
マザーボード自動交換マニピュレータ(Z軸昇降+水平アーム)と多機位ストレージラックオプション。複数のマザーボード間の自動交換用
WORKFLOW

運用フロー

  1. 01

    カードと治具の設定

  2. 02

    荷重と撮像

  3. 03

    XYZ・荷重解析

  4. 04

    電気結果との照合

各項目の文章説明
カードと治具の設定
カード構造、基準、荷重範囲、検査領域、安全条件を登録します。
荷重と撮像
レシピに従って荷重を加え、針先、接触、針痕を撮像します。
XYZ・荷重解析
位置と荷重を計算し、判定値を外れた箇所を表示します。
電気結果との照合
PCT5801の座標・判定と関連付け、再試験結果を保存します。
FAT / SAT

導入プロセス

01

サンプル評価

02

技術仕様書

03

FAT

04

SAT

各項目の文章説明
サンプル評価
対象、インターフェース、現状、不良モード、評価用サンプルを確認します。
技術仕様書
装置構成、測定方法、判定値、タクト、データ連携、責任範囲を確定します。
FAT
合意したサンプルで機能、繰返し精度、報告書、異常処理を確認します。
SAT
現場接続、教育、上流・下流インターフェース、残課題の対応を完了します。
CONFIGURATION

構成・受入条件

システム構成、選択機能、受入条件を以下に示します。

開発の背景

Accretech UF3000 / UF3000ex、TEL P-12XLなどに対応済み。これらではチャック荷重が高ピン数カードの制約となるため、1000 kgf専用機を開発しました。

満載時剛性の実測

1000 kgf までの段階加圧による実測:Z 軸真直度 0.2 µm 未満、チャック平面度偏差 10 µm 以内(3 mm ストローク)、傾き約 0.003°、3 回の加圧が一致し非対称変形なし。測定方法・装置・記録一式は技術面談で提示します。

データ連携

針先XYZ、荷重、画像、判定記録はPCT5801の異常チャネル座標と対応し、位置特定と再検証に使用します。

受入方法

治具、アルゴリズム、しきい値、再現性、タスク時間は実サンプルによりFAT/SATで項目ごとに確認します。

カード仕様と接続条件をお知らせください

サンプル、既存装置、現在の課題、目標タクトをお送りください。1営業日以内に受領をご連絡します。