PCT5801 高通道系统；现有系统配置为 16,384 通道，motherboard 与接口按卡型设计。
逐条文字说明
- 标配配置
- 测试机通道标配；最大配置 65,536
- 漏电检查
- 量程与阈值按卡型设置
- 典型任务时间
- 任务时间随针数与配置，在技术协议中约定
- 验证组合
- 电性结果与针尖、受力和接触状态关联
设备与工程方案
适用场景
适用于以下探针卡制造、测试与维护环节。
存储器探针卡交付验证
HBM 与一次落针评估
电性异常定位
逐条文字说明
- 存储器探针卡交付验证
- 在交付或维修后，按 Open、Short、Leakage、控制资源与接口项目形成可追溯结果。
- HBM 与一次落针评估
- 按高针数 motherboard 和 tester/prober 配置核对通道分配及一次落针连接。
- 电性异常定位
- 先定位开短路、漏电或控制资源异常，再用针尖 XYZ、受力和接触状态解释物理原因。
SPECIFICATIONS
主要规格
具体配置根据卡型、接口、现场条件和验收项目确定。
展开完整规格表
| 项目 | 规格 / 配置 | 说明 |
|---|---|---|
| tester 生态 | T5830、T5833、M5、V93000 P16 等 | 接口以现场 tester、motherboard 与项目文件为准 |
| prober 生态 | UF3000 / UF3000ex 与 TEL P-12XL | 机械、电气和自动化接口逐项目确认 |
WORKFLOW
工作流程
01 接口与样品建模
02 电性任务执行
03 物理检查关联
04 报告与复测
逐条文字说明
- 接口与样品建模
- 核对卡型、针数、tester、prober、motherboard、控制资源和验收项目。
- 电性任务执行
- 按 Open、Short、Leakage、MCW、控制和可选高速项目运行并保存原始结果。
- 物理检查关联
- 针对异常位置补充针尖 XYZ、受力、针痕或接触状态检查。
- 报告与复测
- 保留配置版本、结果、异常处理和复测结论，支持 FAT/SAT。
FAT / SAT
项目实施
样品评估
技术协议
FAT 工厂验收
SAT 现场验收
逐条文字说明
- 样品评估
- 确认对象、接口、现状、失效模式和可用于验证的样品。
- 技术协议
- 确定配置、量测方法、阈值、节拍、数据接口和双方责任。
- FAT 工厂验收
- 使用约定样品验证功能、重复性、报告和异常处理。
- SAT 现场验收
- 完成现场联调、培训、上下游接口和遗留问题闭环。
CONFIGURATION
配置与验收
以下内容用于说明系统构成、选配项目和最终验收方式。
安装应用
已安装系统 30 台（截至 2026-08），覆盖中国大陆与韩国。
扩展方案
16,384 通道为标配配置，最大配置 65,536；60k DRAM / 300k HBM 根据卡型、motherboard 与 tester 接口单独设计。
项目确认
最终通道数、量程、阈值、接口和任务时间在样品评估、技术协议及 FAT/SAT 中确定。
把卡型、接口和目标交给工程团队
提交样品、现有设备、当前问题和目标节拍；我们将在 1 个工作日内确认收到。