半导体测试系统设备视觉(非 EVA100 实机)

数字与混合信号测试系统 · E-Model / P-Model

Advantest EVA100 应用与测试工程

EVA100 是 Advantest 面向特性评价、性能评价与量产测试的数字与混合信号测试系统,分 E-Model 工程型与 P-Model 量产型。Probing 作为其代理与分销商,基于实际板卡和器件规格开发测试程序,覆盖 CP、FT、IP 验证与失效分析,并使用 Sequence、Timing、Level、Device Block、虚拟仪表和 Shmoo 完成调试。

设备类别视觉,非 EVA100 实机;EVA100 实机外观以 Advantest 目录为准。板卡、仪器资源和软件能力按实际系统配置确认。
机型E-Model / P-Model
数字通道128ch ~ 1024ch
逐针资源PPMU −1.25~+7 V,±32 mA
模拟与高压±64 V / ±128 V / 1000 V
逐条文字说明
机型
工程开发型 / 量产型
数字通道
100 Mbps,双时钟 200 MHz
逐针资源
每 DM64 模块 64 通道
模拟与高压
AVI · MVI · HVI 模块
设备与工程方案

适用场景

适用于以下测试与工程环节。

器件测试程序开发

工程验证与失效分析

CP/FT 流程迁移

逐条文字说明
器件测试程序开发
面向 MCU、逻辑、PMIC、传感器等器件,根据规格书、板卡和测试资源建立测试项与判定值。
工程验证与失效分析
使用虚拟仪表、序列和 Shmoo 定位电压、电流、时序与边界问题。
CP/FT 流程迁移
梳理设备资源、接口板、测试程序和数据输出,形成可验收迁移。
SPECIFICATIONS

主要规格

具体配置根据卡型、接口、现场条件和验收项目确定。

机型构成E-Model 工程型;P-Model 量产型测试单元 E-Model 1 台;P-Model 最多 4 台
数字通道E-Model 128ch(DM64×2);P-Model 256~1024chbase rate 100 Mbps,双时钟 200 MHz
Pattern memory128 MW;SCAN 通道链接最大 2 GW含子程序、失效分析与数字捕捉存储器
每 DM64 模块资源PPMU 64ch(−1.25~+7 V,±32 mA);DPS 4ch(−6~+7 V,−400~+500 mA);VPP 16ch 最大 13.5 V;TMU 8ch 至 200 MHz另有 PDPS 64ch(−1.25~+7 V,±64 mA,可并联)、CPMU、18 bit AWG/DGT 与参考电源
模拟源测模块AVI 6ch:±64 V 或 −32~+96 V,最大 ±500 mA;MVI 2ch:±128 V,电流测定最大 5 A;HVI 1ch:1000 V 浮动输出AVI/MVI 电流测定最小分辨率 62.5 pA
波形发生与采集LF:AWG 200 ksps/24 bit,DGT 625 ksps/24 bit;HF:AWG 512 Msps/16 bit,DGT 250 Msps/16 bitHF 正弦 0.1 Hz~200 MHz,最大 6 Vpp,低失真 <−100 dB @ 1 MHz
展开完整规格表
项目规格 / 配置说明
示波器SCAP 4ch:1 Gsps,500 MHz 带宽(PB 直连 50 Ω;BNC 1 MΩ 输入 300 MHz),8000 采样点/通道高速采样模式 2 Gsps/2ch
协议与接口控制I2C、SPI、JTAG 与任意协议;GCM 8ch,按寄存器映射控制器件选件支持 SENT、PSI5、CAN/CANFD/LIN
电源与控制接口E-Model:100–240 V 单相,PCIe 接口;P-Model:200 V 单相,光纤接口ACDC Box 输出 48 V DC 为测试单元供电
尺寸与重量测试单元 Mini 220×472×206 mm / Standard 363×472×206 mm,约 8.2~19.4 kgACDC Box、AC-CONT 与工作站另计
适用器件MCU、小型 FPGA/ASIC、标准逻辑、指纹 IC、数字传感器、Flash,以及 LDO、DC-DC、运放等模拟器件数字与模拟模块按配置示例组合
软件Measurement Atelier;选件 System Software Pro、STILReader Plus、CATVert VCD 与生产环境工具Windows 10,图形化开发与调试
工程交付环境核对、接口板、测试程序、Golden sample、报告与培训范围在技术协议中明确
WORKFLOW

工作流程

  1. 01

    系统与器件盘点

  2. 02

    测试项与资源映射

  3. 03

    程序开发与调试

  4. 04

    Golden sample 与交付

逐条文字说明
系统与器件盘点
核对 EVA100 配置、板卡、接口、器件规格和现有程序。
测试项与资源映射
把规格项目映射到电源、数字、混合信号和时钟资源。
程序开发与调试
使用序列、时序、电平、设备块和 Shmoo 完成验证。
Golden sample 与交付
以已知样品核对结果,完成报告、版本管理和现场培训。
FAT / SAT

项目实施

01

样品评估

02

技术协议

03

FAT 工厂验收

04

SAT 现场验收

逐条文字说明
样品评估
确认对象、接口、现状、失效模式和可用于验证的样品。
技术协议
确定配置、量测方法、阈值、节拍、数据接口和双方责任。
FAT 工厂验收
使用约定样品验证功能、重复性、报告和异常处理。
SAT 现场验收
完成现场联调、培训、上下游接口和遗留问题闭环。
CONFIGURATION

配置与验收

以下内容用于说明系统构成、选配项目和最终验收方式。

参数出处

本页硬件参数取自 Advantest 公开商品目录《EVA100》(Bulletin No. EVA100-A11C,2020 年 1 月,简体中文版);目录注明产品规格与外观可能不经预告而变更。

自研与代理边界

EVA100 为 Advantest 产品;Probing 是其代理与分销商,负责机械集成、应用工程与测试程序开发。

配置确认

实际板卡、仪器资源与软件功能以目标系统实机配置为准,交付范围由技术协议定义。

把卡型、接口和目标交给工程团队

提交样品、现有设备、当前问题和目标节拍;我们将在 1 个工作日内确认收到。