高针数插座测试设备实物局部；治具和接口按插座样品配置。
设备与工程方案
适用场景
适用于以下探针卡制造、测试与维护环节。
来料与装机前检查
在贵重处理器装入前识别开路、短路或接触异常。
治具/插座开发验证
比较不同结构、压合条件和接触网络的结果。
故障定位与复测
把异常定位到针位和网络，并保留复测记录。
SPECIFICATIONS
主要规格
具体配置根据卡型、接口、现场条件和验收项目确定。
| 项目 | 规格 / 配置 | 说明 |
|---|---|---|
| 目标针数 | 8,000-20,000 pin | 通道和扫描方式按 pin map 设计 |
| 测试对象 | AI 处理器及相邻高针数封装插座 | 需要 pin map、样品和机械数据 |
| 检查项目 | 开路、短路、接触与项目定义电性项 | 量程、阈值和覆盖由样品实验确定 |
| 机械工装 | 专用定位、压合与防误装治具 | 行程、受力和安全条件按插座结构设计 |
| 数据 | pin map、配置版本、通道结果、异常位置和复测 | 支持来料、研发和质量流程 |
| 性能 | 扫描与判定时间 | 在目标 pin map 与阈值明确后实测 |
| 接口 | 上位机、报告及工厂系统 | 身份、工单和结果字段可对接 |
WORKFLOW
工作流程
导入 pin map
校验网络、针位、保留位和判定规则。
治具与压合确认
验证定位、防误装、行程、受力和重复装夹。
执行通道测试
按项目任务检查并定位异常。
报告与放行
输出配置、结果和复测记录，支撑装机决策。
FAT / SAT
项目实施
样品评估
确认对象、接口、现状、失效模式和可用于验证的样品。
技术协议
确定配置、量测方法、阈值、节拍、数据接口和双方责任。
FAT 工厂验收
使用约定样品验证功能、重复性、报告和异常处理。
SAT 现场验收
完成现场联调、培训、上下游接口和遗留问题闭环。
CONFIGURATION
配置与验收
以下内容用于说明系统构成、选配项目和最终验收方式。
应用范围
支持 8,000-20,000 pin 高针数插座测试。
参数设置
精度、速度、量程和阈值按客户插座、pin map 和验收方法确定。
样品验收
使用金样、异常样和重复装夹实验确认 FAT/SAT 项目。
把卡型、接口和目标交给工程团队
提交样品、现有设备、当前问题和目标节拍；我们将在 1 个工作日内确认收到。