插座测试设备类别视觉；实际 motherboard、治具与 pin map 按插座样品设计。
逐条文字说明
- 测试前端
- 256 通道
- 扇出方式
- 架构上限 16,384 输出
- 测量资源
- 同时测量资源在技术协议中约定
- 电流分辨率
- 500 nA 量程下
设备与工程方案
适用场景
适用于以下探针卡制造、测试与维护环节。
来料与装机前检查
治具/插座开发验证
故障定位与复测
逐条文字说明
- 来料与装机前检查
- 在贵重处理器装入前识别开路、短路或接触异常。
- 治具/插座开发验证
- 比较不同结构、压合条件和接触网络的结果。
- 故障定位与复测
- 把异常定位到针位和网络，并保留复测记录。
SPECIFICATIONS
主要规格
具体配置根据卡型、接口、现场条件和验收项目确定。
展开完整规格表
| 项目 | 规格 / 配置 | 说明 |
|---|---|---|
| 数据 | pin map、配置版本、通道结果、异常位置与复测记录 | 支持来料、研发与质量流程 |
WORKFLOW
工作流程
01 导入 pin map
02 配置 motherboard 与治具
03 执行通道测试
04 报告与放行
逐条文字说明
- 导入 pin map
- 校验网络、针位、保留位与判定规则 pin map 决定扇出与扫描方式
- 配置 motherboard 与治具
- 按插座结构确定扇出路径、定位与压合 motherboard 由 Probing 自行设计制造
- 执行通道测试
- 开短路、漏电与逐针接触电阻按项目任务执行 异常定位到具体针位
- 报告与放行
- 输出配置、逐点结果与复测记录 支撑装机决策
FAT / SAT
项目实施
样品评估
技术协议
FAT 工厂验收
SAT 现场验收
逐条文字说明
- 样品评估
- 确认对象、接口、现状、失效模式和可用于验证的样品。
- 技术协议
- 确定配置、量测方法、阈值、节拍、数据接口和双方责任。
- FAT 工厂验收
- 使用约定样品验证功能、重复性、报告和异常处理。
- SAT 现场验收
- 完成现场联调、培训、上下游接口和遗留问题闭环。
CONFIGURATION
配置与验收
以下内容用于说明系统构成、选配项目和最终验收方式。
架构与规格
EVA100 前端、继电器矩阵扇出、PMU 与量程数据出自 Probing 插座测试机产品资料 Rev 1.7（2024-11-15）。
通道规模
16,384 为继电器矩阵架构上限；产品对外定位为 5,000 通道以上，实际交付配置按插座 pin map 与 motherboard 确定。
测试时间
标称测试时间按每 5,000 通道给出，不含上下料与温度稳定时间；具体节拍在目标 pin map 与阈值明确后实测确认。
把卡型、接口和目标交给工程团队
提交样品、现有设备、当前问题和目标节拍；我们将在 1 个工作日内确认收到。