
적용 분야
프로브 카드 제작, 테스트와 유지보수의 주요 적용 분야입니다.
테스트 프로그램 개발
데이터시트, 인터페이스 보드와 장비 리소스로 테스트 항목과 판정을 구성합니다.
평가·고장 분석
가상 계측기, Sequence와 Shmoo로 전압, 전류, Timing과 동작 한계를 확인합니다.
CP/FT 공정 이전
장비 리소스, 인터페이스 보드, 기존 프로그램과 데이터 출력을 정리해 이전합니다.
주요 사양
최종 구성은 카드, 인터페이스, 설치 조건과 인수 항목에 맞춰 결정합니다.
| 항목 | 사양 / 구성 | 비고 |
|---|---|---|
| 신호 | 디지털, 혼합 신호 | 실제 장비에 장착된 보드와 리소스 사용 |
| 디바이스 | Logic, PMIC, Comparator, Amplifier, Audio/Video Converter, Sensor | 디바이스 사양과 장비 리소스로 적용 범위 결정 |
| 공정 | CP, FT, IP validation, Failure Analysis | 핸들러, 프로버와 인터페이스를 공정에 맞춰 구성 |
| 가상 계측기 | Voltmeter, Ammeter, Voltage/Current Source, Clock | 사용 범위는 실제 장비 구성에 따라 결정 |
| 개발 기능 | Sequence, Pin, Timing, Level, Device Block | 테스트 흐름 작성과 디버그에 사용 |
| 분석 | Shmoo, 테스트 결과 데이터 | 범위, step과 판정을 디바이스별로 설정 |
| 납품 | 환경 확인, 인터페이스 보드, 프로그램, Golden sample, 보고서, 교육 | 대상 범위를 기술 사양서로 확정 |
운영 절차
장비·디바이스 확인
EVA100 구성, 보드, 인터페이스, 디바이스 사양과 기존 프로그램을 확인합니다.
테스트 항목 매핑
사양 항목을 전원, 디지털, 혼합 신호와 클록 리소스에 매핑합니다.
개발·디버그
Sequence, Timing, Level, Device Block과 Shmoo로 테스트를 조정합니다.
Golden sample 확인
알려진 샘플로 결과를 확인하고 보고서, 버전 관리와 현장 교육을 진행합니다.
프로젝트 진행
샘플 평가
대상, 인터페이스, 현재 상태, 불량 유형과 평가용 샘플을 확인합니다.
기술 사양서
장비 구성, 측정 방법, 판정값, takt, 데이터 연계와 책임 범위를 확정합니다.
FAT
합의한 샘플로 기능, 반복성, 보고서와 이상 처리를 확인합니다.
SAT
현장 연결, 교육, 상하위 인터페이스와 잔여 문제 처리를 완료합니다.
구성 및 인수 조건
시스템 구성, 선택 기능과 인수 조건을 아래에 정리했습니다.
지원 범위
디지털·혼합 신호 디바이스의 CP/FT, IP 검증과 고장 분석을 지원합니다.
장비 구성
사용 가능한 계측기, 보드와 소프트웨어 기능은 대상 EVA100 장비에서 확인합니다.
인수 조건
장비 구성, 디바이스 사양, 인터페이스 보드와 Golden sample로 납품 범위를 확인합니다.
카드 사양과 연결 조건을 알려주십시오
샘플, 기존 장비, 현재 문제와 목표 takt를 보내주십시오. 1영업일 이내에 접수 여부를 안내합니다.
