半導体テストシステムの装置ビジュアル(EVA100 実機ではありません)

デジタル・ミックスドシグナルテストシステム · E-Model / P-Model

Advantest EVA100 アプリケーション・テストエンジニアリング

EVA100 は Advantest の特性評価・性能評価・量産テスト向けデジタル・ミックスドシグナルテストシステムで、エンジニアリング向けの E-Model と量産向けの P-Model があります。Probing はその代理店・ディストリビューターとして、実際のボードとデバイス仕様に基づきテストプログラムを開発し、CP、FT、IP 検証と故障解析をカバーし、Sequence、Timing、Level、Device Block、バーチャル計測器と Shmoo でデバッグを行います。

装置カテゴリーのビジュアルであり、EVA100 実機ではありません。実機の外観は Advantest カタログに基づきます。ボード、計測リソース、ソフトウェア機能は実機のシステム構成に基づき確認します。
機種E-Model / P-Model
デジタルチャンネル128ch ~ 1024ch
ピンごとのリソースPPMU −1.25~+7 V、±32 mA
アナログ・高圧±64 V / ±128 V / 1000 V
各項目の文章説明
機種
エンジニアリング開発型 / 量産型
デジタルチャンネル
100 Mbps、ダブルクロック 200 MHz
ピンごとのリソース
DM64 モジュールあたり 64 チャンネル
アナログ・高圧
AVI · MVI · HVI モジュール
装置・エンジニアリングソリューション

適用分野

以下のテスト・エンジニアリング業務に適用されます。

デバイステストプログラム開発

エンジニアリング検証と故障解析

CP/FT フロー移行

各項目の文章説明
デバイステストプログラム開発
MCU、ロジック、PMIC、センサーなどのデバイスを対象に、仕様書、ボード、テストリソースからテスト項目と判定値を構築します。
エンジニアリング検証と故障解析
バーチャル計測器、シーケンス、Shmoo で電圧・電流・タイミング・マージンの問題を特定します。
CP/FT フロー移行
装置リソース、インターフェースボード、テストプログラム、データ出力を整理し、検収可能な移行にまとめます。
SPECIFICATIONS

主な仕様

最終構成は、カード、インターフェース、設置条件、受入項目に合わせて決定します。

機種構成E-Model エンジニアリング型;P-Model 量産型テストユニットは E-Model 1 台;P-Model 最大 4 台
デジタルチャンネルE-Model 128ch(DM64×2);P-Model 256~1024chbase rate 100 Mbps、ダブルクロック 200 MHz
Pattern memory128 MW;SCAN チャンネルリンクで最大 2 GWサブルーチン、フェイル解析、デジタルキャプチャ用メモリを含む
DM64 モジュールあたりのリソースPPMU 64ch(−1.25~+7 V、±32 mA);DPS 4ch(−6~+7 V、−400~+500 mA);VPP 16ch 最大 13.5 V;TMU 8ch 最大 200 MHzほかに PDPS 64ch(−1.25~+7 V、±64 mA、並列動作)、CPMU、18 bit AWG/DGT、リファレンス電源
アナログソース・メジャーモジュールAVI 6ch:±64 V または −32~+96 V、最大 ±500 mA;MVI 2ch:±128 V、電流測定最大 5 A;HVI 1ch:1000 V フローティング出力AVI/MVI の電流測定最小分解能 62.5 pA
波形発生・取り込みLF:AWG 200 ksps/24 bit、DGT 625 ksps/24 bit;HF:AWG 512 Msps/16 bit、DGT 250 Msps/16 bitHF 正弦波 0.1 Hz~200 MHz、最大 6 Vpp、低歪み <−100 dB @ 1 MHz
仕様表をすべて表示
項目仕様・構成補足
オシロスコープSCAP 4ch:1 Gsps、帯域 500 MHz(PB 直結 50 Ω。BNC 1 MΩ 入力は 300 MHz)、チャンネルあたり 8000 サンプル高速サンプリングモード 2 Gsps/2ch
プロトコル・インターフェース制御I2C、SPI、JTAG と任意プロトコル;GCM 8ch、レジスタマップに基づきデバイスを制御オプションで SENT、PSI5、CAN/CANFD/LIN に対応
電源・制御インターフェースE-Model:100–240 V 単相、PCIe インターフェース;P-Model:200 V 単相、光ファイバーインターフェースACDC Box が 48 V DC でテストユニットに給電
寸法・重量テストユニット Mini 220×472×206 mm / Standard 363×472×206 mm、約 8.2~19.4 kgACDC Box、AC-CONT、ワークステーションは別途
適用デバイスMCU、小規模 FPGA/ASIC、標準ロジック、指紋 IC、デジタルセンサー、Flash、および LDO、DC-DC、オペアンプなどのアナログデバイスデジタル・アナログモジュールは構成例に基づき組み合わせ
ソフトウェアMeasurement Atelier;オプションで System Software Pro、STILReader Plus、CATVert VCD と量産環境ツールWindows 10、グラフィカルな開発・デバッグ
エンジニアリング納入環境確認、インターフェースボード、テストプログラム、Golden sample、レポート、トレーニング範囲は技術契約書で明確にします
WORKFLOW

運用フロー

  1. 01

    システムとデバイスの棚卸し

  2. 02

    テスト項目とリソースのマッピング

  3. 03

    プログラム開発とデバッグ

  4. 04

    Golden sample と納入

各項目の文章説明
システムとデバイスの棚卸し
EVA100 の構成、ボード、インターフェース、デバイス仕様、既存プログラムを確認します。
テスト項目とリソースのマッピング
仕様項目を電源、デジタル、ミックスドシグナル、クロックの各リソースにマッピングします。
プログラム開発とデバッグ
シーケンス、タイミング、レベル、デバイスブロック、Shmoo で検証を完了します。
Golden sample と納入
既知サンプルで結果を照合し、レポート、バージョン管理、現地トレーニングを完了します。
FAT / SAT

導入プロセス

01

サンプル評価

02

技術仕様書

03

FAT

04

SAT

各項目の文章説明
サンプル評価
対象、インターフェース、現状、不良モード、評価用サンプルを確認します。
技術仕様書
装置構成、測定方法、判定値、タクト、データ連携、責任範囲を確定します。
FAT
合意したサンプルで機能、繰返し精度、報告書、異常処理を確認します。
SAT
現場接続、教育、上流・下流インターフェース、残課題の対応を完了します。
CONFIGURATION

構成・受入条件

システム構成、選択機能、受入条件を以下に示します。

パラメータの出典

本ページのハードウェアパラメータは Advantest 公開カタログ「EVA100」(Bulletin No. EVA100-A11C、2020 年 1 月、簡体字中国語版)に基づきます。カタログには、製品仕様と外観は予告なく変更される場合があると記載されています。

自社開発と代理の境界

EVA100 は Advantest の製品です。Probing はその代理店・ディストリビューターとして、メカニカルインテグレーション、アプリケーションエンジニアリング、テストプログラム開発を担当します。

構成の確認

実際のボード、計測リソース、ソフトウェア機能は対象システムの実機構成に基づきます。納入範囲は技術契約書で定義します。

カード仕様と接続条件をお知らせください

サンプル、既存装置、現在の課題、目標タクトをお送りください。1営業日以内に受領をご連絡します。