ソケット試験装置のカテゴリ画像。実際のマザーボード、治具、pin mapはソケットのサンプルに応じて設計します。
各項目の文章説明
- 試験フロントエンド
- 256チャネル
- 展開方式
- アーキテクチャ上限 16,384出力
- 測定リソース
- 同時測定リソースは技術仕様書で取り決めます
- 電流分解能
- 500 nAレンジ
装置・エンジニアリングソリューション
適用分野
プローブカードの製造、試験、保守における主な適用分野です。
受入・実装前検査
ソケット・治具開発
異常位置の特定
各項目の文章説明
- 受入・実装前検査
- プロセッサを装着する前に、Open、Short、接触異常を確認します。
- ソケット・治具開発
- 構造、押付け条件、接触ネットワークの違いを比較します。
- 異常位置の特定
- 異常をピンとネットへ特定し、再装着・再試験の結果を保存します。
SPECIFICATIONS
主な仕様
最終構成は、カード、インターフェース、設置条件、受入項目に合わせて決定します。
仕様表をすべて表示
| 項目 | 仕様・構成 | 補足 |
|---|---|---|
| データ | pin map、構成版数、チャネル結果、異常位置、再測定記録 | 受入、開発、品質の各業務に対応 |
WORKFLOW
運用フロー
01 pin mapの取込
02 マザーボードと治具の構成
03 チャネル試験の実行
04 報告と出荷判定
各項目の文章説明
- pin mapの取込
- ネット、ピン位置、予約ピン、判定規則を確認 pin mapが展開方式とスキャン順を決める
- マザーボードと治具の構成
- ソケット構造に合わせて展開経路、位置決め、圧接を決定 マザーボードはProbingが設計・製造
- チャネル試験の実行
- オープン、ショート、リーク、接触抵抗を案件の項目に従って実行 異常は特定のピンまで特定
- 報告と出荷判定
- 構成、1点ごとの結果、再測定記録を出力 実装可否の判断を支援
FAT / SAT
導入プロセス
サンプル評価
技術仕様書
FAT
SAT
各項目の文章説明
- サンプル評価
- 対象、インターフェース、現状、不良モード、評価用サンプルを確認します。
- 技術仕様書
- 装置構成、測定方法、判定値、タクト、データ連携、責任範囲を確定します。
- FAT
- 合意したサンプルで機能、繰返し精度、報告書、異常処理を確認します。
- SAT
- 現場接続、教育、上流・下流インターフェース、残課題の対応を完了します。
CONFIGURATION
構成・受入条件
システム構成、選択機能、受入条件を以下に示します。
アーキテクチャと仕様
EVA100フロントエンド、リレーマトリクス展開、PMUと測定レンジはProbingのソケット試験装置資料 Rev 1.7（2024-11-15）に基づきます。
チャネル規模
16,384はリレーマトリクスのアーキテクチャ上限です。製品の位置づけは5,000チャネル超であり、納入構成はpin mapとマザーボードにより決まります。
試験時間
公称試験時間は5,000チャネルあたりの値で、ロード・アンロードと温度安定時間を含みません。実際のタクトは対象pin mapと判定値の確定後に実測で確認します。
カード仕様と接続条件をお知らせください
サンプル、既存装置、現在の課題、目標タクトをお送りください。1営業日以内に受領をご連絡します。