高ピン数ソケットテスターの実機部分。治具、押付け、電気インターフェースはソケットに合わせて設計します。
装置・エンジニアリングソリューション
適用分野
プローブカードの製造、試験、保守における主な適用分野です。
受入・実装前検査
プロセッサを装着する前に、Open、Short、接触異常を確認します。
ソケット・治具開発
構造、押付け条件、接触ネットワークの違いを比較します。
異常位置の特定
異常をピンとネットへ特定し、再装着・再試験の結果を保存します。
SPECIFICATIONS
主な仕様
最終構成は、カード、インターフェース、設置条件、受入項目に合わせて決定します。
| 項目 | 仕様・構成 | 補足 |
|---|---|---|
| 対象ピン数 | 8,000～20,000 pin | チャネル構成と走査方法をpin mapに合わせて設計 |
| 対象 | AIプロセッサおよび高ピン数パッケージソケット | pin map、実サンプル、機械データが必要 |
| 検査項目 | Open、Short、接触、指定電気項目 | レンジ、判定値、対象ネットをサンプルで設定 |
| 治具 | 位置決め、押付け、誤装着防止 | ストローク、荷重、安全条件をソケット構造に合わせて設計 |
| データ | pin map、設定版数、チャネル結果、異常位置、再試験 | 受入、開発、品質管理に使用 |
| 性能 | 走査・判定時間 | 対象pin mapと判定条件で実測 |
| インターフェース | 上位PC、報告書、工場システム | ID、作業指示、結果項目を連携可能 |
WORKFLOW
運用フロー
pin map登録
ネット、ピン、予約ピン、判定ルールを確認します。
治具・押付け確認
位置決め、誤装着防止、ストローク、荷重、繰返し装着を確認します。
チャネル試験
設定した項目を実行し、異常ピンとネットを表示します。
報告・判定
設定、結果、再試験履歴を出力し、実装可否の判断に使用します。
FAT / SAT
導入プロセス
サンプル評価
対象、インターフェース、現状、不良モード、評価用サンプルを確認します。
技術仕様書
装置構成、測定方法、判定値、タクト、データ連携、責任範囲を確定します。
FAT
合意したサンプルで機能、繰返し精度、報告書、異常処理を確認します。
SAT
現場接続、教育、上流・下流インターフェース、残課題の対応を完了します。
CONFIGURATION
構成・受入条件
システム構成、選択機能、受入条件を以下に示します。
対象範囲
8,000～20,000 pinの高ピン数ソケットに対応します。
仕様設定
レンジ、判定値、走査時間、押付け条件は対象ソケットとpin mapから設定します。
受入方法
良品、不良品、繰返し装着を使ってFAT/SAT項目を確認します。
カード仕様と接続条件をお知らせください
サンプル、既存装置、現在の課題、目標タクトをお送りください。1営業日以内に受領をご連絡します。