現行の高チャネル構成は16,384チャネルです。motherboardとインターフェースはカード仕様に合わせて設計します。
各項目の文章説明
- 標準構成
- テスタチャネルの標準構成。最大構成 65,536
- リーク試験
- レンジと判定値はカード仕様に合わせて設定
- 測定時間の目安
- 所要時間はピン数と構成により、技術仕様書で取り決めます
- システム構成
- 電気異常を針先位置・荷重・接触状態と照合
装置・エンジニアリングソリューション
適用分野
プローブカードの製造、試験、保守における主な適用分野です。
出荷・修理後の確認
HBMワンタッチダウン評価
電気異常の原因解析
各項目の文章説明
- 出荷・修理後の確認
- Open、Short、Leakage、制御リソース、インターフェースを検査し、結果をカード単位で保存します。
- HBMワンタッチダウン評価
- 高ピン数motherboardとtester/prober構成に合わせ、チャネル割り当てとワンタッチダウン動作を確認します。
- 電気異常の原因解析
- 異常チャネルを特定し、針先XYZ、荷重、針痕、接触状態の結果と照合します。
SPECIFICATIONS
主な仕様
最終構成は、カード、インターフェース、設置条件、受入項目に合わせて決定します。
仕様表をすべて表示
| 項目 | 仕様・構成 | 補足 |
|---|---|---|
| tester | T5830、T5833、M5、V93000 P16など | 現場のtesterとmotherboard仕様を確認 |
| prober | UF3000 / UF3000ex 与 TEL P-12XL | 機械・電気・自動化インターフェースを個別設計 |
WORKFLOW
運用フロー
01 カードと接続条件の確認
02 電気試験
03 物理検査
04 報告と再試験
各項目の文章説明
- カードと接続条件の確認
- カード種類、ピン数、tester、prober、motherboard、制御リソース、受入項目を整理します。
- 電気試験
- Open、Short、Leakage、MCW、制御項目と選択した高速項目を実行し、元データを保存します。
- 物理検査
- 異常位置について針先XYZ、荷重、針痕、接触状態を確認します。
- 報告と再試験
- 設定版数、試験結果、処置内容、再試験結果をまとめ、FAT/SATに使用します。
FAT / SAT
導入プロセス
サンプル評価
技術仕様書
FAT
SAT
各項目の文章説明
- サンプル評価
- 対象、インターフェース、現状、不良モード、評価用サンプルを確認します。
- 技術仕様書
- 装置構成、測定方法、判定値、タクト、データ連携、責任範囲を確定します。
- FAT
- 合意したサンプルで機能、繰返し精度、報告書、異常処理を確認します。
- SAT
- 現場接続、教育、上流・下流インターフェース、残課題の対応を完了します。
CONFIGURATION
構成・受入条件
システム構成、選択機能、受入条件を以下に示します。
導入実績
2026年8月時点で 30 台のシステムを設置済み（中国本土・韓国）。
拡張方針
16,384 チャネルが標準構成、最大構成は 65,536。60k DRAM / 300k HBM はカード・motherboard・テスタインタフェースに合わせて個別設計します。
受入条件
チャネル数、レンジ、判定値、インターフェース、測定時間は技術仕様書とFAT/SAT項目で確定します。
カード仕様と接続条件をお知らせください
サンプル、既存装置、現在の課題、目標タクトをお送りください。1営業日以内に受領をご連絡します。