프로버 카테고리 이미지. 척 톱은 그 위의 유지 부재로 기종 치수에 맞춰 제작합니다.
장비 및 엔지니어링 솔루션
적용 분야
프로브 카드 제작, 테스트와 유지보수의 주요 적용 분야입니다.
MOSFET 뒷면 통전 테스트
소자 뒷면이 전면에서 통전해야 하며 홈 위치에서 접촉이 빠집니다.
가동 중 장비 소모품 교체
운용 중인 APM90A와 UF200 시리즈의 척 교체.
접촉 불량 원인 분리
불량이 특정 위치에 몰릴 때 먼저 유지면 평탄도와 흡착 균일성을 확인합니다.
SPECIFICATIONS
주요 사양
최종 구성은 카드, 인터페이스, 설치 조건과 인수 항목에 맞춰 결정합니다.
| 항목 | 사양 / 구성 | 비고 |
|---|---|---|
| 홀 수 | 3000개 이상의 조밀 흡착홀 | 홈 구조를 쓰지 않음 |
| 표면 처리 | 금도금 | 뒷면 통전과 내마모 확보 |
| 평탄도 | 5 μm | 전면 기준 |
| 대응 기종 | 도쿄정밀 ACCRETECH APM90A, UF200, UF200A, UF200R 시리즈 | 기종 치수에 맞춰 제작 |
| 주요 용도 | MOSFET 등 뒷면 통전 소자 테스트 | 그 외는 샘플로 확인 |
| 공급 주체 | 상하이 원란 무역상행 | 장비 본체 공급 주체와 다름 |
WORKFLOW
운영 절차
APM90A인지 UF200 시리즈인지에 따라 척 치수와 인터페이스 확정
시리즈 간 호환 없음
뒷면 통전 방식과 접촉 요건 확인
금도금 면 필요 여부 판단
기종에 맞춰 제작해 납품
소모 부품으로 사용 상황에 따라 교체
장착 후 흡착 균일성과 테스트 결과 확인
실측 접촉 결과 기준
FAT / SAT
프로젝트 진행
샘플 평가
대상, 인터페이스, 현재 상태, 불량 유형과 평가용 샘플을 확인합니다.
기술 사양서
장비 구성, 측정 방법, 판정값, takt, 데이터 연계와 책임 범위를 확정합니다.
FAT
합의한 샘플로 기능, 반복성, 보고서와 이상 처리를 확인합니다.
SAT
현장 연결, 교육, 상하위 인터페이스와 잔여 문제 처리를 완료합니다.
CONFIGURATION
구성 및 인수 조건
시스템 구성, 선택 기능과 인수 조건을 아래에 정리했습니다.
출처
홀 수, 금도금, 무홈 구조, 평탄도 5 μm, 대응 기종은 모두 다공 척 제품 자료에 근거합니다.
미공개 항목
수명, 유지력, 상한 온도는 자료에 없으며 사용 조건별로 확인이 필요합니다.
공급 주체
본 제품은 상하이 원란 무역상행이 공급하며 프로브 카드 장비 공급 주체와 다릅니다.
카드 사양과 연결 조건을 알려주십시오
샘플, 기존 장비, 현재 문제와 목표 takt를 보내주십시오. 1영업일 이내에 접수 여부를 안내합니다.