현재 고채널 시스템은 16,384채널 구성입니다. motherboard와 인터페이스는 카드 사양에 맞춰 설계합니다.
각 항목의 문장 설명
- 표준 구성
- 테스터 채널 표준 구성. 최대 구성 65,536
- 누설 검사
- 범위와 판정값은 카드 사양에 맞춰 설정
- 대표 작업 시간
- 소요 시간은 핀 수와 구성에 따라 기술 사양서에서 약정합니다
- 시스템 구성
- 전기 이상을 팁 위치·하중·접촉 상태와 연계
장비 및 엔지니어링 솔루션
적용 분야
프로브 카드 제작, 테스트와 유지보수의 주요 적용 분야입니다.
출하 및 수리 후 검사
HBM 원터치다운 평가
전기 이상 원인 분석
각 항목의 문장 설명
- 출하 및 수리 후 검사
- Open, Short, Leakage, 제어 리소스와 인터페이스를 검사하고 카드별 결과를 저장합니다.
- HBM 원터치다운 평가
- 고핀수 motherboard와 tester/prober 구성에 맞춰 채널 배치와 원터치다운 경로를 확인합니다.
- 전기 이상 원인 분석
- 이상 채널을 찾은 뒤 팁 XYZ, 하중, 프로브 마크와 접촉 상태를 함께 확인합니다.
SPECIFICATIONS
주요 사양
최종 구성은 카드, 인터페이스, 설치 조건과 인수 항목에 맞춰 결정합니다.
전체 사양표 보기
| 항목 | 사양 / 구성 | 비고 |
|---|---|---|
| tester | T5830, T5833, M5, V93000 P16 등 | 현장 tester와 motherboard 사양 확인 |
| prober | UF3000 / UF3000ex and TEL P-12XL | 기계·전기·자동화 인터페이스 개별 설계 |
WORKFLOW
운영 절차
01 카드와 연결 조건 확인
02 전기 테스트
03 물리 검사
04 보고서와 재검사
각 항목의 문장 설명
- 카드와 연결 조건 확인
- 카드 종류, 핀 수, tester, prober, motherboard, 제어 리소스와 인수 항목을 정리합니다.
- 전기 테스트
- Open, Short, Leakage, MCW, 제어 항목과 선택한 고속 항목을 실행하고 원시 데이터를 저장합니다.
- 물리 검사
- 이상 위치의 팁 XYZ, 하중, 프로브 마크와 접촉 상태를 검사합니다.
- 보고서와 재검사
- 설정 버전, 결과, 조치 내용과 재검사 결과를 정리해 FAT/SAT에 사용합니다.
FAT / SAT
프로젝트 진행
샘플 평가
기술 사양서
FAT
SAT
각 항목의 문장 설명
- 샘플 평가
- 대상, 인터페이스, 현재 상태, 불량 유형과 평가용 샘플을 확인합니다.
- 기술 사양서
- 장비 구성, 측정 방법, 판정값, 택트, 데이터 연계와 책임 범위를 확정합니다.
- FAT
- 합의한 샘플로 기능, 반복성, 보고서와 이상 처리를 확인합니다.
- SAT
- 현장 연결, 교육, 상하위 인터페이스와 잔여 문제 처리를 완료합니다.
CONFIGURATION
구성 및 인수 조건
시스템 구성, 선택 기능과 인수 조건을 아래에 정리했습니다.
설치 실적
2026년 8월 기준 30대 시스템 설치 완료(중국 본토·한국).
확장 방침
16,384 채널이 표준 구성이며 최대 구성은 65,536. 60k DRAM / 300k HBM 은 카드·motherboard·테스터 인터페이스에 맞춰 개별 설계합니다.
인수 조건
채널 수, 범위, 판정값, 인터페이스와 작업 시간은 기술 사양서와 FAT/SAT 항목에서 확정합니다.
카드 사양과 연결 조건을 알려주십시오
샘플, 기존 장비, 현재 문제와 목표 택트를 보내주십시오. 1영업일 이내에 접수 여부를 안내합니다.