SEMICON China 2026のProbingブースとチーム

出展レポート · 終了

SEMICON China 2026

2026年3月25~27日、上海新国際博覧中心で高チャネルプローブカード電気・物理検証装置を展示し、motherboard、tester/proberインターフェース、高ピン数プロジェクトについて技術交流を行いました。

状況終了写真・製品情報は引き続き公開
会期2026.03.25-273日間
会場上海新国際博覧中心SNIEC、上海
写真厳選10枚装置、ブース、技術交流
会場での内容

装置実演と現場での技術交流

メモリ用プローブカード試験、motherboard接続、高チャネル電気試験、DeepTouch物理検証を中心に紹介しました。

装置実演

プローブカード電気・物理検証装置の操作と試験フローを実演。

インターフェース

motherboard、接触検証、tester/prober連携、プロジェクト接続を説明。

写真記録

装置、ブース、操作実演、顧客との技術交流を10枚で紹介。

今後

展示会後の技術相談

プローブカード、tester/prober接続、高ピン数プロジェクトについて、製品ページからサンプルと条件をお知らせください。

展示会後も技術相談を受け付けています

サンプル、既存装置、プロジェクト条件をお送りください。1営業日以内に受領をご連絡します。

技術相談を送る