测试对象
Test Target

数字版本机型
Digital Mini Test Unit

量测MCU、嵌入式Flash、ASIC

混合讯号版本机型

Mixed Standard Test Unit

电源管理、比较器、放大器、音频/视频信号转换器、传感器

适用场景

全面覆盖CP晶圆测试以及FT成品测试
适用IP验证和失效分析

Probing Semiconductor
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设备测试指标
Tester Specifications

板卡型号任意搭配

设备可最多搭配4个Test Unit,构成1024通道数字测试系统

图形化虚拟仪表
GUI Virtual Instrument Panel

电压表、电流表

电压源、电流源

数字示波器

实时频域、时域信号捕捉和分析

Probing Semiconductor
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图形化的编程及调试界面
GUI Programming and Debug

Sequence Editor

以阶梯图的形式进行编程,形象的标识各通道的上电下电和量测逻辑顺序

Debug Tool

秉承Advantest测试机家族的界面风格,集成了逻辑时序分析、Pattern调试器

Shmoo调试器

二维变量变化Shmoo调试工具

丰富的在线工具
Online Tools

系统配置器

自由配置板卡,获得最适合的配置

Pattern转换工具

实现Advantest旗下T2000 / V93000 / EVA100的Pattern互相转换

Pattern生成工具

生成SPI、I2C等协议的Pattern

任意波形绘制工具

通过图形化工具绘制任意波形,实时显示其数学公式,可直接导出至AWG所需的格式

Probing Semiconductor
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EDA Tools

秉承自Advantest T2000的同一工具,实现WGL/STIL/VCD格式的EDA数据转换

量产支持Mass Production Support

256/512/1024通道Hard-docking direct mount

兼容Chroma 3380 / Teradyne J750 针卡

兼容Chroma 3360 / 3380 Cable 牛角接头针卡

Probing Semiconductor
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