二手设备列表
Surplus Equipments List

Probing Semiconductor

ASML PAS5500/700D
光刻机
Lithography Machine

Wafer Size: 200mm

Resolution: 250nm

Light Source: KrF 248nm

NA: 0.68
Overlay: 35nm

Probing Semiconductor

ASML Twinscan AT850
光刻机
Lithography Machine

Wafer Size: 300mm
Resolution: 90nm

Light Source: KrF 248nm

NA: 0.68
Overlay: 12nm

Probing Semiconductor

ASML XT1460K
DUV光刻机
Lithography Machine

Wafer Size: 300mm
Resolution: 65nm

Light Source: ArF 193nm

NA: 0.93
Overlay: 5nm

Probing Semiconductor

ASML XT1700Fi
DUV光刻机
Lithography Machine

Wafer Size: 300mm
Resolution: 45nm

Light Source: ArFi 193nm

NA: 1.2
Overlay: 5nm

Probing Semiconductor

ASML NXT1950i
DUV光刻机
Lithography Machine

Wafer Size: 300mm
Resolution: 38nm

Light Source: ArFi 193nm

NA: 1.35
Overlay: 2.5nm

Probing Semiconductor

ASML NXT1960i
DUV光刻机
Lithography Machine

Wafer Size: 300mm
Resolution: 38nm

Light Source: ArFi 193nm

NA: 1.35
Overlay: 2.5nm

Probing Semiconductor

ASML NXT1970i
DUV光刻机
Lithography Machine

Wafer Size: 300mm
Resolution: 38nm

Light Source: ArFi 193nm

NA: 1.35
Overlay: 2.5nm

Probing Semiconductor

ASML NXT1980i
DUV光刻机
Lithography Machine

Wafer Size: 300mm
Resolution: 38nm

Light Source: ArFi 193nm

NA: 1.35
Overlay: 2.5nm

Probing Semiconductor

ASML NXT2050i
DUV光刻机
Lithography Machine

Wafer Size: 300mm
Resolution: 38nm

Light Source: ArFi 193nm

NA: 1.35
Overlay: 2.5nm

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半导体测试技术白皮书

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RF集成电路测试指南

针对射频集成电路测试的详细指南，包括测试流程、仪器选择和数据分析，帮助优化测试结果。
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半导体测试设备维护手册

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雯澜新（上海）半导体科技有限公司Probing Semiconductor [email protected]2025.3 updated